CTスキャナ紹介

設備情報

ナノフォーカス・マイクロフォーカス・ミニフォーカスの3管球をラインナップ

3次元産業用及び化学解析タスク向けハイエンドツール: GE phoenix v|tome|x m300; フラットパネル検出器 2000×2000 スキャッターコレクト

生産工程管理向け450kV管球搭載CT機器: GE phoenix v|tome|x c450; フラットパネル検出器 2000×2000 スキャッターコレクト

GE phoenix v|tome|x m300

X線管タイプ	ナノフォーカス・マイクロフォーカスオープンチューブ（二管球搭載）
最大管電圧/最大出力	180kV/15W（ナノフォーカス）・300kV/500W（マイクロフォーカス）
フォーカスと検出器との距離	800mm
倍率	1.33-100倍
検出能力	1μm（ナノフォーカス）・2μm（マイクロフォーカス）　※ただしサンプル及び計測条件による
測定許容誤差	3.8+L/100μm　※VDI2630-1.3規格準拠
検出器	フラットパネルディテクタ（FPD）ピクセルサイズ　200μm×200μm 感度エリア　400×400mm（16″×16″）ピクセル数　2,000×2,000
マニピュレータ	高精度花崗岩　4軸マニピュレータ
最大サンプル重量	20kg
ソフトウェア	dotos\|x（BHGE社製CTデータ取得・再構成ソフトウェア）
対応モジュール	オートROI、セクタスキャン（ハーフスキャン）、ファストスキャン、マルチスキャン、マルチボリューム再構成、自動幾何調整、ビームハードニング校正、リングアーチファクト軽減、オブジェクト調整、スキャッターコレクト（散乱光抑制）

GE phoenix v|tome|x c450

X線管タイプ	ミリフォーカスクローズドチューブ（ISOVOLT 450 M2/0.4-1.0HP）
最大管電圧/最大出力	450kV/1,500W
フォーカスと検出器との距離	1,300mm
倍率	1.37-2倍
検出能力	100μm　※ただしサンプル及び計測条件による
測定許容誤差	20+L/100μm
検出器	フラットパネルディテクタ（FPD）ピクセルサイズ　200μm×200μm 感度エリア　約400×400mm2（16″×16″）ピクセル数　2,000×2,000ピクセル（4M）
マニピュレータ	高精度花崗岩　2軸マニピュレータ
最大サンプル重量	50kg
ソフトウェア	dotos\|x（BHGE社製CTデータ取得・再構成ソフトウェア）
対応モジュール	オートROI、セクタスキャン（ハーフスキャン）、ファストスキャン、マルチスキャン、マルチボリューム再構成、自動幾何調整、ビームハードニング校正、リングアーチファクト軽減、オブジェクト調整、スキャッターコレクト（散乱光抑制）

最大スキャン範囲

GE phoenix v|tome|x m300: 最大スキャン範囲290×250mm（1ショット）
※420×360mm(オフセットスキャン+マルチスキャン)

GE phoenix v|tome|x c450: 最大スキャン範囲300×260mm（1ショット）
※420×900mm(オフセットスキャン+マルチスキャン)

設備特徴

CT画像ノイズ低減モジュール「scatter correct(スキャッターコレクト)」を用いることにより、コーンビームCTでは決して得られなかった画像品質を得ることが可能です。ファンビームCTの品質と同等なデータを、コーンビームCTとscatter correct(スキャッターコレクト)を併用することによりスピーディかつローコストにて実現。

ファンビームCT同等画像が得られる
高速で散乱の影響を受けにくい綺麗な画質を実現
より均一なグレイ値
寸法計測のパフォーマンスの向上
欠陥認識率の向上

透過能力

CTスキャンは材料の比重により、透過能力に制限があります。

	樹脂	アルミ	鉄	最小分解能
180kV	125mm	72mm	18mm	1μm
300kV	235mm	120mm	30mm	2μm
450kV	320mm	180mm	50mm	100μm